intest热流仪车规级芯片高低温冲击测试intest热流仪车载芯片

intest 热流仪搭配 keysight 进行功率器件自动化高低温测试
上海伯东美国 intest 热测产品搭配 keysight 机台, 提供 igbt, rf device, mosfet, hi power led 等功率器件 -100℃ - 350℃ 自动化热测试解决方案. keysight 机台兼容 intest 软件, 操作简单.




功率器件高低温测试案例一:
上海伯东美国 intest thermal plate hp289-pm 搭配 keysight b1505a 或 b1506a, 完成室温至 250℃ 温度测试. 通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 thermal plate 上即可. 通过使用 intest 可能的减少长线缆导致的测试问题, 兼容接头将 keysight 分析仪与 intest 热板连接在一起.

功率器件高低温测试案例二:
intest thermalstream 高低温冲击测试机搭配 b150xa 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.
测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可重复的温度特性测试.

功率器件高低温测试案例三:
某企业通过上海伯东, 购入美国 thermostream ats-710 高低温冲击测试机, 为 mosfet \ mos 管, 场效应管, to 封装等器件提供 -50 至 +150 °c 快速的外部温度环境, 满足测试器件性能的要求.

intest thermal plate 热台 (环境温度至 +250°c) 和 thermostream (-50 至 +250°c) 可满足高温和极低温测试的需求. 两种温度测试都具有温度自动循环, 数据记录和远程通信功能.

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