intest热流仪微控制器mcu芯片高低温测试

intest 热流仪微控制器 mcu 芯片高低温测试
微控制器 mcu 芯片广泛应用于消费电子 (手机, 打印机), 计算机网络, 工业控制,   汽车电子以及智慧家庭等领域. 其中, 汽车是 mcu 芯片 的应用市场, 传统汽车单车会平均用到 70个左右, 而新能源汽车则需要用到 300多个, 应用领域包括 adas, 车身, 底盘及安全,  , 动力系统等, 几乎无处不在.上海伯东美国 intest 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的 mcu 芯片高低温测试难题.



微控制器 mcu 芯片需要进行温度测试
以工作温度为例, 车规级要求 mcu 可承受工作温度范围为 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工业级为 -40℃ 至 85℃, 而消费级只要  0℃ 至 70℃ 能正常工作即可过关, 因此消费级产品在常温时工作状态与工业级 / 车规产品差异不大, 但在高低温时, 则容易出现问题,  可能会导致整个系统停机. 因此工业级或车规级 mcu 在出厂之前需要专门针对严苛应用环境做针对性设计, 从而达到工业设备或汽车对于元器件高 与低缺陷的要求.

mcu 芯片高低温冲击测试案例
国内某本土 mcu 厂商从成立之初就将工控和车载作为研发方向, 经上海伯东, 采用美国 intest eco-710e 对其 mcu 产品进行高低温冲击测试, 并且满足汽车电子协会 automotive electronics council 的通用标准, 例如目前广泛采用的集成电路失效机理的应力测试条件的 aec-q100.

车载 mcu 芯片的工况环境决定其温度等级, 根据其测试标准, 芯片的温度测试要求如下:

针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供微控制器 mcu 芯片高低温测试解决方案
eco-710e 测试的温度范围 -80 至 +225°c, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, intest 高低温测试机 eco-710e 搭配 delta design 测试机共同进行微处理器芯片测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析,  评估等. intest 高低温测试机的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的芯片高低温测试难题.


微处理器芯片高低温测试方法:
1. 将待测微处理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作员设置需要测试的温度范围
3. 启动 thermostream eco-710e, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达加热头进行升温, 气流通过热流罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前温度.

intest 热流仪技术规格

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